單晶LD測試機
OHLD-14A00
 
基本功能
  1. 可依設定條件分為30類
  2. 量測光學路徑經過治具,需經過正確的光譜補償校正,光譜規格依據原廠光譜儀,可依需求選定
  3. 含RS-232界面可與PC連接
附件包括:
  1. 機械界面連接排線 *1
  2. 測試元件連接線 *1
  3. IR光纖*1
簡易測試規格
  OHLD-14A00
LOP Bias If: 0.001 ~ 4.000A ± (0.5%+2counts) 
Ift:
0.3 mS ~ 999mS     (If<=40mA)
0.3 mS ~ 99.9mS     (40mA
0.3 mS ~ 10.0mS     (If>400mA)
Lop:   0.000~65535 mw或單位自訂
VF Bias If:  同LOP
Ift: 同LOP
Vf:   0.000 ~ 8.000V ± (0.5%+2counts)
VZ Bais Iz: 0.01 ~ 40.00mA ± (0.5%+2counts)
Izt: 5.0~200.0mS
Vz:   0.0~200.0V±(1%+2Digits)
IR Bais Vr: 0.1~200.0V±(0.25%+2Digits)
Vrt: 3.0~200.0mS
Ir:   0.0 ~400.0uA±(1%+2counts)
Wavelength Bias Ifw: 0.001 ~ 4.000A±(0.5%+2counts)
Ifwt:  同LOP
λp:   830 ~ 960 nm ± (0.5 nm) (參照說明3.)
HW     0.6 ~ 100 nm ± (0.3 nm)