4晶並測LED測試機
ZCLED-4FR20\N
 
注意
  1. 使用一般LED實際測試的結果,需排除待測物受熱及環境的影響
  2. S/N比較差時需使用電源(60Hz)濾波功能
備註
  1. 使用標準件校正LOP讀值並隨波長修正
  2. λd/Purity/CCT由x,y計算,請參閱x,y的準確度與跳動範圍
  3. 選用尖峰型光譜的LED進行測試,平頂型的光譜波形會造成λp讀值範圍大 
  4. 經過正確的光譜校正後,UV波段校正需使用UV標準燈源
  5. ZCLED-4FR20\N尺寸: 48.5*53*24cm
  6. 待測物為單色LED且經正確的標準件校驗後, λd讀值僅限可見光波長
  7. 本測試項目 支援可同時測試4晶粒
  8. 建議材料使用在約20V以上的材料小於20V在接觸異常情況可能容易造成融針
簡易測試規格
測試項目 測試條件   測試值
輸出 電壓檔位 檔位範圍 解析度 準確度 測試
時間
測試
結果
檔位範圍 解析度 重複性 準確度 備註
極性 IF 同VF 分辨極性,無讀值顯示
預熱 IF 同VF (時間參照VF對照) 電流加熱,無讀值顯示
VF IF 40v 0.0010~0.4000mA 0.0001mA ±(1%+0.0002mA) 99mS VF 0.001~10.000V 0.001V ±0.02V ±(0.25%+0.04V) 7
0.401~4.000mA 0.001mA ±(1%+0.002mA)
4.01~40.00mA 0.01mA ±(1%+0.02mA) 10.01~40.00V 0.01V ±0.02V ±(0.25%+0.04V)
40.1~400.0mA 0.1mA ±(1%+0.2mA)
DVF IF 同VF DVF 同VF
VFD IFD 0 ->100uA 大約值 VFD 0.001~8.000V 0.01V ±0.02V 大約值 7
0 ->25mA
VZ IZ 200V 0.01~40.00uA 0.01uA ±(1%+0.02uA) 99mS VZ 0.1~200.0V 0.1V ±0.2V ±(0.5%+0.2V) 7
40.1~400.0uA 0.1uA ±(1%+0.2uA)
401~1000uA 1uA ±(1%+2uA)
IR VR 400uA 0.1~200.0V 0.1V ±(0.5%+0.2V) 99mS IR 0.000~4.000uA 0.001uA ±0.005uA ±(1%+0.002uA) 7
4.01~40.00uA 0.01uA ±0.05uA ±(1%+0.02uA)
40.1~400.0uA 0.1uA ±0.5uA ±(1%+0.2uA)
LOP
(Iv或Ie
或光通量)
IF 同VF
(UV波段的材料需使用無視效函數偵測器如UV-100)
LOP
(Iv或Ie
或光通量)
0.000~4.000 0.001 ±1% ±2% 1
4.01~40.00 0.01
40.1~400.0 0.1
使用gain/offset校正Iv或Ie或光通量為實際讀值
光譜 IF 同VF,CCD為2048pixel ,積分時 間最小可到0.2mS λd 380.0~700.0nm 0.1nm ±0.3nm ±0.5nm 2,3,4
λc 370.0~720.0nm 0.1nm ±0.3nm ±0.5nm 4
λp 380.0~1000.0nm 0.1nm ±0.3nm ±0.5nm 3,4
HW 3.0~600.0nm 0.1nm ±0.3nm  ±0.5nm 4
Purity 0.000~1.000 0.001 ±0.001 ±0.002 2,4
CIE x,y 0.0000~1.0000 0.0001 ±0.0005 ±0.001 4
CCT 1000~25000°K 1°K ±50°K ±100°K 2,4